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熱刺激電流（Thermally Stimulated Current，TSD）技術(shù)是通過將樣品線性升溫，使材料中不同陷阱能級(jí)內(nèi)的空間電荷脫阱，或使取向的偶極分子發(fā)生松弛，在外電路上產(chǎn)生電流，獲得電流隨溫度的變化關(guān)系的一門技術(shù)。通過對所獲得的電流-溫度譜的分析、計(jì)算，可得到捕獲空間電荷和取向偶極分子的束縛能級(jí)、活化能分布和儲(chǔ)存的電荷密度、脫阱電荷的逃逸頻率和平均渡越時(shí)間等參數(shù)，是研究材料內(nèi)部空間電荷
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