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JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷，可以在防輻射屏內營造一個穩(wěn)定的測試環(huán)境。在特殊材料，半導體器件等研究方向具有廣泛運用。

JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環(huán)境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結霜。此設備對于一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規(guī)探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統，穩(wěn)定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應的儀器儀表，用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。