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型號:FE-5000
精科智創(chuàng)PVDF薄膜材料鐵電測試儀

描述:本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時間

    2025-03-20
  • 訪問量

    89
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詳細(xì)介紹
品牌Microtrac/拜爾產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

FE-5000型鐵電薄膜測試儀


精科智創(chuàng)PVDF薄膜材料鐵電測試儀

   FE-5000W型電致應(yīng)變鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值。可以進(jìn)行電致應(yīng)變測試,可以蝴蝶曲線功能,設(shè)備還可以擴(kuò)展高溫電阻,高溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的重要設(shè)備之一,已經(jīng)在各大高校和科研院所廣泛使用。

二、主要技術(shù)指標(biāo):

1、輸出信號電壓::±5000V(可擴(kuò)展10 kV,可擴(kuò)展電致應(yīng)蝴蝶曲線功能

2、溫度;室溫-200℃,控溫精度:±1

3、控制施加頻率0.01250KHz(陶瓷、單晶,薄膜)PC端軟件控制自定義設(shè)置;

4、控制輸出電流0到±50mA連續(xù)可調(diào),PC端軟件控制自定義設(shè)置。

5、動態(tài)電滯回線測試頻率范圍 0.01Hz-5kHz

7、最小脈寬保持時間為20us;最小上升沿時間為10us;

8、疲勞測試頻率500kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);使用高壓放大器后疲勞頻率最高5kHz;

9、測試速度:測量時間《5/樣品•溫度點(diǎn)   

10、樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,厚度0.1-10mm

11、主要功能: 動態(tài)電滯回線DHM,靜態(tài)電滯回線SHM,I-V特性,脈沖PUND,疲勞Fatigue,電擊穿強(qiáng)度BDM,漏電流LM,電流-偏壓,保持力RM,

10. 電荷解析度不小于10 mC;

漏電流測量范圍:1pA~ 20 mA,分辨率不低于0.1pA;

12、控制方式:計(jì)算機(jī)實(shí)時控制、實(shí)時顯示、實(shí)時數(shù)據(jù)計(jì)算、分析與存儲

13、軟件采集:自動采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件。

14、測試精度:±0.05%

15、內(nèi)置電壓:±20V

 

 

鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):

a. 外接5 kV高壓放大器;

b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 1 kHz;

c. 最大電荷解析度:10 mC;

d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);

e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA;

f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊。

本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。

該系統(tǒng)測試功能:

動態(tài)電滯回線DHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

漏電流LM

電流-偏壓。


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