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型號(hào):GWGYJD-1000W
全新高溫高壓介電測(cè)試儀(外加5000V高壓)

描述:GWGY-1000W型高溫高壓介電常數(shù)測(cè)試儀是一款區(qū)別目前市場(chǎng)上高溫介電測(cè)試儀,也是研究材料介電性能的新領(lǐng)域,采用全新技術(shù),打破了之前的只能在變溫下的頻率下測(cè)試,該設(shè)備能夠在對(duì)樣品進(jìn)行高溫測(cè)試的同時(shí),給樣品加高壓,最高可達(dá)5000V直流高壓,更加直觀的看到樣品在外加高壓的條件下,內(nèi)部相關(guān)的性質(zhì)變化,很多關(guān)于薄膜和壓電陶瓷樣品,是在外加高壓條件下,性能會(huì)出現(xiàn)比較大的

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間

    2025-03-20
  • 訪問(wèn)量

    267
詳細(xì)介紹
品牌ABB價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,電氣

GWGYJD-1000W高溫高壓介電測(cè)試儀(外加5000V高壓)

關(guān)鍵詞:高溫,高壓5000V,介電損耗,阻抗

   全新高溫高壓介電測(cè)試儀(外加5000V高壓)

                                                

     GWGY-1000W型高溫高壓介電常數(shù)測(cè)試儀是一款區(qū)別目前市場(chǎng)上高溫介電測(cè)試儀,也是研究材料介電性能的新領(lǐng)域,采用全新技術(shù),打破了之前的只能在變溫下的頻率下測(cè)試,該設(shè)備能夠在對(duì)樣品進(jìn)行高溫測(cè)試的同時(shí),給樣品加高壓,最高可達(dá)5000V直流高壓,更加直觀的看到樣品在外加高壓的條件下,內(nèi)部相關(guān)的性質(zhì)變化,很多關(guān)于薄膜和壓電陶瓷樣品,是在外加高壓條件下,性能會(huì)出現(xiàn)比較大的變化,無(wú)疑給新的科研提供新的研究方向,對(duì)于研究新產(chǎn)品及半導(dǎo)體材料有著重要作用。也是目前高校研究和生產(chǎn)的重要儀器。

一、應(yīng)用范圍

(1)介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

(2)液晶單元:介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

(3)半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

(4)半導(dǎo)體元件:LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

(5)無(wú)源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

二、主要特點(diǎn):

1、電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(?)

2、高精度量測(cè):電容,電感及阻抗基本精度為±0.05%.消耗因素精度為±0.0005及品質(zhì)因素精度為±0.05%.

3、元件圖形掃描;精密阻抗分析儀不僅提供高頻率,高精度的量測(cè). 該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀.

4、圖形掃描可依據(jù)頻率, 驅(qū)動(dòng)值及直流偏壓源同時(shí)在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的圖形.

5、顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式.單測(cè)某一頻率時(shí)可以從圖形掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)電表讀值模式.

6、可變的輸出和偏壓源,最高達(dá)到5000V

三、符合規(guī)范:

1、GB/T 3389.7-1986壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法

2、GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

3GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

4、ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法

5GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法

四、主要技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍:  室溫-1000℃  測(cè)溫精度: 0.1℃

2、外加電壓:0-5000V

3、頻   率:10HZ-1MHZ,2MHZ,5MHZ,10MHZ,30MHZ可選

4、升溫速度: 1—20。C/min

5、控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

6、通訊接:   RS-485

7、溫度范圍:  0—600℃,0—800℃,0—1000℃,

8、測(cè)試頻率:  200Hz—50MHz

9、電極材質(zhì):  鉑銥合金

10、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層

11、下電極:  直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層

12、保護(hù)電極:    帶保護(hù)電極,消除寄生電容、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響

13、電極干擾屏蔽:   電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

14、夾具升降控制:   帶程序和手動(dòng)控制,可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

15、熱電偶:  熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉,測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致

16、無(wú)電極樣品尺寸:      直徑小于40mm,厚度小于8mm

17、帶電極樣品尺寸:      直徑小于26mm,厚度小于8mm

18、軟件功能:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),可以分類(lèi)保存,樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

19、測(cè)量方案:    提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

20、接口方式:包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口,

21、外形尺寸 :   L360mm*W370mm*H510mm

22、凈   重:           22KG


全新高溫高壓介電測(cè)試儀(外加5000V高壓)

全新高溫高壓介電測(cè)試儀(外加5000V高壓)



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