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本測(cè)試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中，本測(cè)試系統(tǒng)主要由信號(hào)源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計(jì)算機(jī)通訊接口、計(jì)算機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。 模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試

全自動(dòng)ZKSJD-600型高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。測(cè)溫范圍從-190℃-600℃，滿(mǎn)足目前條件下測(cè)試的要求，同時(shí)高低溫阻抗。

GDPT-900A型高低溫壓電材料測(cè)試儀+ZJ-4型D33測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專(zhuān)用儀器，可以測(cè)量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎(chǔ)上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數(shù)值。對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)

模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，能夠較全面確地測(cè)量鐵

TDZT-04C 鐵電材料測(cè)試儀 關(guān)鍵詞：電滯回線，疲勞，脈沖，漏電流， TDZT-04C鐵電測(cè)試儀通過(guò)全局總線進(jìn)行控制，可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設(shè)備采用孔浮地技術(shù)，可有效地降低電荷泄露造成的驅(qū)動(dòng)能力弱及電壓泄露隱患。高壓部分與低壓部分通過(guò)浮地結(jié)構(gòu)隔離，并在低壓部分配置有高壓放電管及附屬設(shè)施，從而避免因高壓泄露造成的損害。 本次研發(fā)采用DDS數(shù)字脈沖輸出技術(shù)，可以在技術(shù)

ZJ-4型寬量程型D33系數(shù)綜合測(cè)試儀,壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專(zhuān)用儀器，可以測(cè)量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎(chǔ)上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數(shù)值。對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測(cè)波形輸出等功能