施力裝置設計:施力裝置的核心部件是力產(chǎn)生機構和力傳遞機構。力產(chǎn)生機構采用了高精度的電磁驅動裝置,通過精確控制電流大小和頻率,能夠產(chǎn)生穩(wěn)定的低頻交變力。力傳遞機構采用了剛性好、精度高的連桿和探頭,能夠將力準確地傳遞到被測試樣上,并且保證力的作用方向垂直于試樣表面。在設計過程中,對施力裝置的各個部件進行了優(yōu)化,以減小摩擦力和慣性力對力傳遞的影響,提高力的施加精度。通過對力產(chǎn)生機構和力傳遞機構的精心設計和調試,使得施力裝置能夠產(chǎn)生大小約為 0.25N、頻率約為 110Hz 的穩(wěn)定交變力,滿足準靜態(tài)測量方法對施力的要求。
信號處理電路設計:信號處理電路是 ZJ-3 型測試儀的關鍵部分之一,它直接影響著測量結果的準確性和可靠性。信號處理電路主要包括電荷放大器、檢波電路和相除電路。電荷放大器采用了高輸入阻抗、低噪聲的運算放大器,能夠將微弱的電荷信號放大到適合后續(xù)處理的幅度。檢波電路采用了精密的二極管檢波電路,能夠將放大后的交流信號準確地轉換為直流信號。相除電路采用了模擬除法器,通過對標準樣品和被測試樣產(chǎn)生的電信號進行相除運算,消除了外界干擾因素對測量結果的影響,提高了測量的精度。在電路設計過程中,充分考慮了電路的抗干擾能力和穩(wěn)定性,采用了屏蔽、濾波等措施,減少外界電磁干擾對信號處理的影響。通過對信號處理電路的優(yōu)化設計,使得測試儀能夠準確地測量和處理壓電材料產(chǎn)生的微弱電信號,為準確測量 d33 常數(shù)提供了保障。
×1 擋:測量范圍為 10 到 2000pC/N,可升級至 20 至 4000pC/N,甚至能夠進一步升級到 10000pC/N。這一范圍能夠滿足大多數(shù)具有較大壓電常數(shù)的壓電陶瓷材料的測量需求。在實際應用中,許多常用的壓電陶瓷材料的 d33 常數(shù)都在這個范圍內,例如 PZT 系列壓電陶瓷,其 d33 常數(shù)通常在幾百到幾千 pC/N 之間,ZJ-3 型測試儀的 ×1 擋能夠對其進行準確測量。
×0.1 擋:測量范圍為 1 到 200pC/N,可擴展至 2 至 400pC/N。該擋位主要用于測量小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。一些新型的壓電單晶材料或壓電高分子材料,其 d33 常數(shù)相對較小,在幾 pC/N 到幾十 pC/N 之間,×0.1 擋能夠滿足對這類材料的精確測量要求。較寬的測量范圍使得 ZJ-3 型測試儀能夠適應不同類型、不同性能壓電材料的測量需求,具有廣泛的適用性。
×1 擋:分辨率為 1pC/N。這意味著在該擋位下,測試儀能夠精確分辨出 d33 常數(shù)的微小變化,即使 d33 常數(shù)的變化量僅為 1pC/N,測試儀也能夠準確地檢測到并在顯示面板上體現(xiàn)出來。這種高分辨率對于測量具有較大 d33 常數(shù)且需要精確測量其細微變化的壓電材料非常重要,例如在研究壓電陶瓷材料的性能優(yōu)化過程中,可能需要觀察 d33 常數(shù)隨著制備工藝參數(shù)改變而發(fā)生的微小變化,×1 擋的高分辨率能夠滿足這一需求。
×0.1 擋:分辨率為 0.1pC/N。在測量小壓電常數(shù)的材料時,×0.1 擋的高分辨率能夠確保對微小 d33 常數(shù)的精確測量。對于那些 d33 常數(shù)在幾 pC/N 到幾十 pC/N 范圍內的壓電單晶或壓電高分子材料,0.1pC/N 的分辨率能夠提供非常準確的測量結果,為研究這類材料的壓電性能提供可靠的數(shù)據(jù)支持。高分辨率保證了測試儀能夠對壓電材料的 d33 常數(shù)進行精細測量,提高了測量結果的準確性和可靠性。
×1 擋:當 d33 在 100 到 4000pC/N 時,誤差為 ±2%±1 個數(shù)字。例如,當測量一個 d33 常數(shù)為 1000pC/N 的壓電材料試樣時,根據(jù)誤差范圍,測量結果可能在 1000×(1 - 2%) - 1 到 1000×(1 + 2%) + 1 之間,即 979 到 1021pC/N 之間。當 d33 在 10 到 200pC/N 時,誤差為 ±5%±1 個數(shù)字。這是因為在較低的 d33 常數(shù)范圍內,測量難度相對較大,外界干擾因素對測量結果的影響相對更明顯,所以誤差范圍適當放寬,但仍能保證在可接受的范圍內,以確保測量結果的可靠性。
×0.1 擋:當 d33 在 10 到 200pC/N 時,誤差為 ±2%±1 個數(shù)字。在該擋位下,對于小壓電常數(shù)材料的測量,能夠保證較高的測量精度,誤差控制在較小范圍內,為研究小壓電常數(shù)材料的性能提供了準確的數(shù)據(jù)基礎。嚴格控制的誤差范圍表明 ZJ-3 型測試儀具有較高的測量準確性,能夠為壓電材料的研究和應用提供可靠的數(shù)據(jù)支持。
尺寸:施力裝置尺寸為 Φ110×140mm,儀器本體尺寸為 240×200×80mm。這樣的尺寸設計使得儀器整體結構緊湊,既方便操作,又便于攜帶和安裝。施力裝置的尺寸設計能夠保證其穩(wěn)定地施加外力,同時不會占用過多空間;儀器本體的尺寸設計兼顧了內部電子元器件的布局和散熱需求,以及操作人員對儀器操作的便捷性。
重量:施力裝置約 4 公斤,儀器本體 2 公斤。較輕的重量使得儀器在使用和搬運過程中更加方便,無論是在實驗室環(huán)境中進行常規(guī)測量,還是需要在不同地點進行現(xiàn)場測試,都能夠輕松移動和部署。
電源:使用 220 伏,50 赫的交流電源,功率為 20 瓦。這種常見的電源規(guī)格使得儀器能夠方便地接入各種實驗場所的供電系統(tǒng),20 瓦的低功率設計既滿足了儀器正常工作的需求,又具有較低的能耗,節(jié)能環(huán)保。
儀器檢查:在使用 ZJ-3 型精密 D33 測試儀之前,首先要對儀器進行全面檢查。檢查儀器外觀是否有損壞,各部件連接是否牢固。查看施力裝置的探頭是否有磨損或變形,如有問題應及時更換或修復,以確保施力的準確性。檢查儀器的電源線是否連接正確,插頭插座是否松動。打開儀器電源,觀察儀器面板上的指示燈是否正常亮起,顯示單元是否正常顯示。如果發(fā)現(xiàn)儀器存在故障或異常情況,應立即停止使用,并進行維修或調試。
試樣準備:對待測試樣進行嚴格的預處理。首先,根據(jù)測量要求,選擇合適尺寸和形狀的壓電材料試樣,如圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可。對試樣的表面進行清潔處理,去除表面的油污、灰塵等雜質,以保證試樣與測量探頭之間良好的電氣接觸。對于壓電陶瓷試樣,需要進行極化處理,使其具有穩(wěn)定的壓電性能。在進行極化處理時,要嚴格控制極化電場強度、極化時間和極化溫度等參數(shù),以確保極化效果的一致性。極化后的試樣應放置一段時間,使其壓電性能穩(wěn)定后再進行測量。根據(jù)試樣的類型和尺寸,選擇合適的夾具將試樣固定在施力裝置的測量位置上,確保試樣安裝牢固,受力均勻。
儀器校準:為了保證測量結果的準確性,在每次測量前需要對儀器進行校準。使用已知 d33 常數(shù)的標準樣品進行校準操作。將標準樣品安裝在施力裝置上,按照正常測量步驟進行操作,記錄儀器顯示的測量值。將測量值與標準樣品的已知 d33 常數(shù)進行比較,如果測量值與標準值之間的偏差超出了儀器規(guī)定的誤差范圍,則需要對儀器進行校準調整。通過調整儀器內部的校準參數(shù),使儀器的測量值與標準值相符。校準過程應嚴格按照儀器的操作手冊進行,確保校準的準確性。經(jīng)過校準后的儀器才能進行準確的測量工作。
參數(shù)設置:根據(jù)被測試樣的估計 d33 常數(shù)大小,選擇合適的測量擋位。如果估計 d33 常數(shù)較大,在 100pC/N 以上,可選擇 ×1 擋;如果估計 d33 常數(shù)較小,在 100pC/N 以下,可選擇 ×0.1 擋。將儀器后面板上的 “d33 - 力" 選擇開關置于 “d33" 一側,確保儀器處于 d33 常數(shù)測量模式。
儀器預熱:打開儀器電源,讓儀器通電預熱 10min。在預熱過程中,儀器內部的電子元器件逐漸達到穩(wěn)定工作狀態(tài),能夠提高測量的準確性和穩(wěn)定性。預熱時間結束后,儀器方可進行準確測量。
調零操作:調節(jié)儀器前面板上的調零旋鈕,使面板表指示在 “0" 與 “ - 0" 之間。調零操作是為了消除儀器的零點漂移誤差,確保測量結果的準確性。在調零過程中,要確保測量頭沒有施加外力,處于空載狀態(tài)。
試樣測量:將安裝好試樣的施力裝置放置在儀器的測量位置上,輕輕壓下測量頭的膠木板,使測量探頭與試樣緊密接觸。此時,施力裝置會向試樣施加一個約 0.25N、頻率為 110Hz 的低頻交變力。由正壓電效應產(chǎn)生的